• Xác định sự phụ thuộc nhiệt độ của các tham số nhiệt động đối với vật liệu bằng phương pháp XAFS phi điều hòa.
• Áp dụng cho một số vật liệu tinh khiết và đa nguyên tố.

Về khoa học:

• Công bố công trình trên 01 bài báo Tạp chí quốc tế thuộc danh mục ISI, 01 bài báo tạp chí chuyên ngành trong nước (đã nộp bài báo cho tạp chí Khoa học công nghệ Việt Nam - Bộ Khoa học và Công nghệ)
• Về mặt lý thuyết: Đã tiến hành nghiên cứu sự phụ thuộc nhiệt độ của Độ dịch bình phương trung bình (MSD) của một số nguyên tố bán dẫn như Ga và As trong GaAs; Ga và P trong GaP; In và P trong InP; In và Sb trong InSb. Đồng thời đánh giá được mối quan hệ giữa Độ dịch bình phương trung bình (MSD) của chúng trong hợp chất theo nhiệt độ
• Về thực nghiệm: Đã tiến hành đo phổ XAFS của Cu và Zn trong khoảng nhiệt độ từ 400K đến 1000K. Thu nhận và xử lý được phổ. Rút ra được các giá trị của hệ số Debye-Waller từ phổ của Cu và Zn ở các nhiệt độ 300K, 400K, 500K, 600K. Đánh giá và so sánh kết quả thu được với các kết quả thực nghiệm của các tác giả khác và các mô hình tính toán khác nhau.

• Đánh giá mối quan hệ của Độ dịch bình phương trung bình (MSD) của các nguyên tố bán dẫn trong hợp chất theo nhiệt độ là vấn đề mới trên thế giới.
• Việc tiến hành đo đạc và xử lý phổ XAFS đối với Cu, Zn phụ thuộc vào nhiệt độ là những công việc thực nghiệm mới đối với Việt Nam.

Các bài báo đã công bố:

• Temperature dependence of Debye- Waller factors of semiconductors. Jounal Vacumm 101 (2014), pp 63-66.
• Đo thực nghiệm phổ XAFS và tính toán hệ số Debye-Waller của Đồng (Cu) phụ thuộc nhiệt độ. Tạp chí Khoa học và Công nghệ Việt Nam. (đã nộp bài)